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簡要描述:美國GE雙晶直探頭(歐標(biāo))小焦距探頭具有非常好的近場分辨率,使用耐磨的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
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美國GE雙晶直探頭(歐標(biāo))
特性:
聲波發(fā)射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場分辨率
使用耐磨的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個金屬環(huán)保護以防磨損
在焦點內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量
加上特殊的延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測量
美國GE雙晶直探頭(歐標(biāo))
應(yīng)用:
近表面的小缺陷探測和評估
焦點內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測
腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測量(包括高溫情況下測量)
粘結(jié)檢測
螺釘,螺栓,銷釘
覆層和堆焊層
軸,桿,方坯芯檢測
粗晶材料
火車車輪
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