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簡(jiǎn)要描述:Dereo 面陣平板探測(cè)器在任何地方都能得到X射線,掃描面積 -40x40厘米的有效區(qū)域,適合拍攝較大物體
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Dereo 面陣平板探測(cè)器應(yīng)用領(lǐng)域
在任何時(shí)間,任何地點(diǎn)隨時(shí)檢查
-電力工業(yè)、石化工業(yè)、航空航天等領(lǐng)域中的管道及板材焊接質(zhì)量檢測(cè)。。。
-鑄件缺陷檢測(cè),例如空隙,熱裂隙及雜質(zhì)。
-復(fù)合材料的結(jié)構(gòu)檢測(cè)
-文物(博物館,實(shí)驗(yàn)室,大學(xué)。。。)
Dereo 面陣平板探測(cè)器主要特點(diǎn):
便攜性 -在任何地方都能得到X射線影響
掃描面積 -40x40厘米的有效區(qū)域,適合拍攝較大物體
快速安裝 -隨時(shí)得到X射線影像
數(shù)字化 -直接得到結(jié)果
-數(shù)字影像后處理
-Tiff和jpg格式
-容易存檔和報(bào)告
-不需要更多的消耗品(膠片和化學(xué)試劑)與暗室
圖像質(zhì)量 -高分辨率 高對(duì)比度(14位)
kV范圍 -可以用X射線穿透多種不同的物體和材料,從紙片到70毫米的鐵片
薄 -可以容易地將探測(cè)器放入被測(cè)物體與障礙物之間
實(shí)時(shí)攝像 -可以實(shí)時(shí)地得到X射線影像,并同步調(diào)節(jié)曝光參數(shù),已得到影像
靈活性 -可以和任何種類的X射線發(fā)生器匹配工作
經(jīng)濟(jì)實(shí)惠 -具有非常*功能的高配置的系統(tǒng),只需要低廉的價(jià)格
Dereo面陣平板探測(cè)器
有效面積:41x41cm
分辨率:200μm
灰度:14bits(16bits備選)
Gadox或SCI屏
外形尺寸:530x575x30mm
重量:小于11.4千克
無能量限制
實(shí)時(shí)成像:
-每秒1幀
-每秒4幀(可選)
Maestro軟件
實(shí)時(shí)濾鏡
可調(diào)節(jié)查找表(LUT)
放大縮小以及屏幕調(diào)整
黑白反轉(zhuǎn)
圖片旋轉(zhuǎn)
水平/垂直翻轉(zhuǎn)
修剪
測(cè)量/輪廓
可按需求提供任何語言版本,開發(fā)新的軟件工具。
DeReo工作站
-筆記本電腦
-屏幕尺寸15.6英寸或更大
-雙核32-bits或64bits處理器+集成顯卡
-RAM DDR3 Go
-Windows XP 32-bits or Windows 7(32bits or 64bits)
Dereo選件
實(shí)時(shí)成像
Wifi組件
電池供電
通過Maestro軟件控制GemX IP66儀器箱
GemX便攜式直流X射線發(fā)生器: GemX-160(140kg)
-無線遙控: Yes
-電池供電(X射線連續(xù)30分鐘)或外接電源:Yes
-電壓范圍: 20-160kV
-電流: 0.1-2mA
-小焦點(diǎn): Be or AI
-絕緣: Oil(2h of X-ray/day)
-穿透力: 1% contrast resolution up to 25mm with
Dereo(at 160kV)
-符合各種地形360度旋轉(zhuǎn)手柄: Yes
-附件: Tripod,leadcap,laser point,...劑量計(jì)
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